Micro FRX

Bruker Nano

CRONO

El Bruker CRONO es fácil de operar y revela los secretos cruciales del objeto al que apunta. La distancia de enfoque óptima de 5 a 7 mm desde la muestra permite la medición sin contacto y es no invasiva y completamente no destructiva. No se requiere preparación de muestras. Se pueden escanear áreas casi planas de hasta 600 mm por 450 mm.

El bastidor motorizado se puede configurar con o sin el carro de soporte en cualquier orientación o se puede desmontar fácilmente para su transporte. El Bruker CRONO se puede convertir en un espectrómetro XRF puntual portátil instalando el cabezal de medición en un trípode ligero. Por lo tanto, el Bruker CRONO es ideal para mediciones in situ.

Las imágenes ópticas de alta resolución se graban con una cámara interna para cada punto de datos además de los datos XRF. El Bruker CRONO puede equiparse con un sistema de purga de He para extender el rango de elementos detectables hasta Na (Z = 11) a U (Z = 92). El espectrómetro Bruker CRONO micro-XRF está equipado con varios filtros de rayos X para optimizar las condiciones de excitación para aplicaciones específicas.

Se puede registrar un espectro o un mapa con el software CRONO. La identificación automática de picos proporciona una indicación visual rápida de los elementos de una muestra. La interfaz muestra el espectro y la concentración de elementos mientras se ejecuta la adquisición. La interpretación de datos es fácil con la superposición de las imágenes ópticas y los datos XRF.
El potente software de procesamiento de datos ESPRIT Reveal ofrece muchas opciones para el análisis fuera de línea. No se requiere conexión de instrumento para el posprocesamiento.
Hechos clave

sistema móvil flexible
medición sin contacto
no invasivo y no destructivo
no se requiere preparación de muestras
fácil monitorización del punto de medición
detecta una amplia gama de elementos: Na (Z = 11) a U (Z = 92)
superposición de imágenes ópticas y de distribución elemental

Bruker Nano

ELIO

El Bruker ELIO es fácil de operar y revela los secretos cruciales del objeto al que apunta. Los objetos de alto valor están seguros con el Bruker ELIO. La medición sin contacto es no invasiva y completamente no destructiva. No se requiere preparación de muestras.

El peso ligero del cabezal de medición y el trípode hacen de este sistema el único espectrómetro de fluorescencia de rayos X (pXRF) verdaderamente portátil con capacidades de mapeo en el mercado y el compañero de viaje perfecto.

Los láseres de alineación identifican fácilmente el punto de medición y garantizan la distancia correcta y segura entre la muestra y el cabezal de medición. Las imágenes ópticas de alta resolución se graban con una cámara interna para cada punto de datos además de los datos XRF.

El Bruker ELIO ofrece una calidad espectral superior con un fondo extremadamente bajo que permite una detección de oligoelementos cualitativa confiable. El instrumento también puede equiparse con un sistema de purga de He para ampliar aún más el rango de elementos detectables hasta Na (Z = 11) a U (Z = 92). El espectrómetro Bruker ELIO micro-XRF detecta oligoelementos de forma fiable gracias al diseño superior de la electrónica. El espectrómetro se puede equipar con varios filtros de rayos X para optimizar las condiciones de excitación para aplicaciones específicas.

Se puede registrar un espectro o un mapa con el software ELIO. La identificación automática de picos proporciona una indicación visual rápida de los elementos de una muestra. La interfaz muestra el espectro y la concentración de elementos mientras se ejecuta la adquisición. La interpretación de datos es fácil con la superposición de las imágenes ópticas y los datos XRF.
El potente software de procesamiento de datos ESPRIT Reveal ofrece muchas opciones para el análisis fuera de línea.

Bruker Nano

M1 Mistral

M1 MISTRAL es un analizador micro-XRF de dispersión de energía de sobremesa compacto para uso multipropósito. Fácil de operar y diseñado para una operación rápida y rentable en un entorno industrial, M1 MISTRAL proporciona información precisa sobre la composición elemental y el espesor de capa de materiales como aleaciones de metales preciosos, así como para estructuras de múltiples capas.

El volumen y los recubrimientos se analizan de acuerdo con la norma ASTM B568 y la norma europea ISO 3497. Se puede lograr una alta precisión en el análisis de recubrimientos de fosfato de níquel (NiP) depositados sin electricidad con excitación a través de un objetivo Rh.

La composición exacta de todas las aleaciones de joyería, metales del grupo del platino o plata se puede determinar en una fracción de minuto. Los resultados pueden expresarse en% en peso o en quilates.

El análisis se puede realizar sin estándar o basado en estándares para alcanzar niveles aún más altos de precisión. Se encuentra disponible una gran variedad de calibraciones para cada aplicación.

Desde el posicionamiento de la muestra hasta la impresión de los resultados en un informe, todo el flujo de trabajo está integrado en el software. Al mismo tiempo, se garantiza la transparencia total con el acceso abierto a los datos sin procesar.

Bruker Nano

M4 Tornado

El M4 TORNADO es la herramienta de elección para la caracterización de muestras utilizando micro fluorescencia de rayos X de puntos pequeños. Sus medidas dan información sobre la composición y distribución de los elementos, incluso desde debajo de la superficie. El espectrómetro micro-XRF de Bruker está optimizado para análisis de alta velocidad de puntos, líneas y escaneos de áreas 2D (mapeo de elementos) de cualquier tipo de muestra; ya sea orgánico, inorgánico o líquido.
La excitación de rayos X primaria utiliza una lente policapilar que ofrece tamaños de puntos pequeños y alta intensidad de rayos X. El M4 TORNADO se puede configurar con una variedad de detectores de deriva de silicio (SDD) Bruker XFlash®, que ofrecen un alto rendimiento sin comprometer la resolución de energía.

Una de las opciones de configuración sobresalientes del M4 TORNADO es el tubo de rayos X adicional, que ofrece un material objetivo diferente y un cambiador de colimador para capacidades analíticas extendidas.

Más opciones de configuración de última generación:

Enjuague para aumentar el rendimiento del elemento ligero mientras se mantiene la presión atmosférica en la cámara
Una etapa de intercambio rápido y un soporte para muestras geográficas empaquetados para secciones delgadas y núcleos de perforación
Software XMethod para cuantificación estándar y totalmente basada en estándares, así como cálculo de espesor de capa
Software AMICS para análisis mineral automatizado

Bruker Nano

M4 Tornado Plus

Con el modelo más nuevo de la familia micro-XRF de Bruker, puede obtener más información sobre su muestra de lo que XRF le mostró antes.
Con sus detectores de elementos superligeros, el M4 TORNADO PLUS es el primer escáner micro-XRF capaz de medir cualquier elemento desde el carbono hacia arriba. Además, el rendimiento de todos los elementos ligeros aumenta considerablemente.

En este instrumento, Bruker introdujo el sistema de gestión de apertura patentado (AMS) que mejora la profundidad de enfoque de la lente policapilar para mapeos de elementos más nítidos de muestras irregulares. La segunda fuente de rayos X opcional amplía aún más las capacidades analíticas con sus cuatro tamaños de puntos seleccionables de 0,5 a 4,5 mm.

Más ligero, más rápido, más profundo.

La cámara de la familia M4 TORNADO ofrece una opción para He-flush. Esto aumenta el rendimiento del elemento ligero mientras se mantiene la presión atmosférica en la cámara. Los elementos ligeros en muestras biológicas o húmedas se pueden analizar sin necesidad de congelar o secar las muestras.

Bruker Nano

M6 Jetstream

Micro-XRF en muestras grandes (también llamado macro-XRF o MA-XRF) se ha convertido en un método decisivo para el análisis de pinturas, muestras geológicas, artefactos arqueológicos y componentes industriales. El M6 JETSTREAM impulsa estos análisis a la máxima velocidad y precisión. Con su distancia entre ejes móvil y su bastidor ajustable, el M6 JETSTREAM se puede utilizar en el lugar en lugar de transportar la muestra al laboratorio.
Medición de muestras verticales o superficies horizontales.
Área escaneable hasta 800 x 600 mm²
Análisis "sobre la marcha" para obtener la máxima velocidad de mapeo
Tamaño del punto ajustable para que coincida con la estructura de la muestra.
Tecnología XFlash® SDD con un área de detección de hasta 2 x 60 mm²
Sistema de gestión de apertura (AMS) opcional para ganar profundidad de enfoque en superficies irregulares