M6 Jetstream

Micro-XRF en muestras grandes (también llamado macro-XRF o MA-XRF) se ha convertido en un método decisivo para el análisis de pinturas, muestras geológicas, artefactos arqueológicos y componentes industriales. El M6 JETSTREAM impulsa estos análisis a la máxima velocidad y precisión. Con su distancia entre ejes móvil y su bastidor ajustable, el M6 JETSTREAM se puede utilizar en el lugar en lugar de transportar la muestra al laboratorio.
Medición de muestras verticales o superficies horizontales.
Área escaneable hasta 800 x 600 mm²
Análisis "sobre la marcha" para obtener la máxima velocidad de mapeo
Tamaño del punto ajustable para que coincida con la estructura de la muestra.
Tecnología XFlash® SDD con un área de detección de hasta 2 x 60 mm²
Sistema de gestión de apertura (AMS) opcional para ganar profundidad de enfoque en superficies irregulares