El sistema Tescan Amber X se destaca como una solución FE-SEM de ultra alta resolución diseñada para investigación avanzada. Con una óptica electrónica de última generación y un sistema de vacío optimizado, proporciona imágenes excepcionales con resolución espacial nanométrica. Además, admite múltiples técnicas analíticas como EDS, EBSD y WDS, lo que permite una caracterización integral desde un solo instrumento. Gracias a su arquitectura estable y diseño ergonómico, el Amber X garantiza productividad y confiabilidad en flujos de trabajo intensivos. Su interfaz de usuario intuitiva permite operar fácilmente incluso en aplicaciones complejas. Esta plataforma es ideal para instituciones que trabajan en ciencia de materiales, nanotecnología y electrónica avanzada, y que requieren un sistema SEM UHR robusto y de alto desempeño para tareas analíticas exigentes.