El MIRA XR de Tescan es un sistema de microscopía electrónica de barrido de ultra alta resolución (UHR-SEM) con EDS integrado, diseñado para la adquisición rápida y precisa de imágenes y el microanálisis de materiales. Utiliza una fuente Schottky FEG optimizada para ultra alta resolución y un procesamiento de imágenes de alta velocidad, lo que agiliza el trabajo en laboratorios con alta demanda de muestras. Al combinar imagen y análisis elemental en un mismo sistema, el MIRA XR es una solución eficiente para el análisis de materiales en la industria, el control de procesos y la caracterización rápida en alta resolución, tanto en entornos productivos como en investigación avanzada.