El XFlash 7100 Oval es un detector EDS de geometría ovalada diseñado para integrarse a la perfección en sistemas SEM, FIB-SEM y STEM-in-SEM. Gracias a su gran área activa de 100 mm² y su diseño sin ventana, permite una recolección eficiente de rayos X con excelente sensibilidad, incluso para elementos ligeros o de baja energía. Su forma delgada y curvada mejora el ángulo sólido y reduce interferencias mecánicas, manteniendo el rendimiento del microscopio electrónico. Este detector es ideal para aplicaciones que requieren alta resolución espacial y velocidad de adquisición, como análisis de materiales, semiconductores y ciencias de la vida. Combinado con el software ESPRIT de Bruker, garantiza análisis cuantitativos confiables y mapeo elemental preciso.