Diseñado para ofrecer análisis elemental con resolución espacial en muestras microscópicas, el QUANTAX XTrace combina la espectroscopía de fluorescencia de rayos X (XRF) de microfoco con una integración perfecta en microscopios electrónicos. Permite obtener mapas elementales detallados y análisis cuantitativos de alta sensibilidad, facilitando la caracterización de materiales heterogéneos. Su rendimiento lo hace especialmente útil en ciencias ambientales, arqueología, electrónica y materiales avanzados, aportando información crítica para estudios multidisciplinarios.