CLARA LM

SEM
Tescan

SEM UHR con bajo vacío para análisis ultrasensibles y sin recubrimiento

El entorno de bajo vacío es una de las principales ventajas del Tescan Clara LM, ya que permite analizar muestras no conductoras sin necesidad de recubrimientos, preservando su morfología original. Este SEM Ultra High Resolution (UHR) ofrece una calidad de imagen sobresaliente gracias a su óptica electrónica de última generación, ideal para estudios detallados en ciencia de materiales, nanotecnología, biotecnología y más. Su alta estabilidad, combinada con una excelente relación señal-ruido, garantiza imágenes nítidas con gran contraste. Compatible con técnicas como EDS y EBSD, el Clara LM permite una caracterización completa morfológica y composicional. Además, su interfaz amigable y diseño ergonómico lo hacen accesible para usuarios con distintos niveles de experiencia, lo que lo convierte en una solución eficiente para instituciones académicas, laboratorios industriales y centros de investigación avanzada.

CLARA LM
Técnica: SEM (Scanning Electron Microscope, Microscopio Electrónico de Barrido)

Imagen propiedad de:

Tescan

Obtenida desde su sitio web oficial.

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