Mira LM

SEM
Tescan

Microscopio FE-SEM versátil para caracterización avanzada de materiales no conductores

Capaz de operar en condiciones de bajo vacío, el Mira LM proporciona imágenes de alta resolución con excelente contraste, sin requerir recubrimiento metálico para muestras no conductoras. Este FE-SEM es perfecto para analizar materiales biológicos, polímeros, muestras farmacéuticas y materiales sensibles al entorno. Con una columna electrónica de alto rendimiento, ofrece estabilidad, precisión y compatibilidad con sistemas analíticos como EDS y EBSD. La interfaz del Tescan Mira LM es fácil de usar y adaptable a operadores con distintos niveles de experiencia, mientras que su diseño ergonómico y construcción robusta aseguran durabilidad y rendimiento constante. Este equipo representa una solución equilibrada para laboratorios que necesitan análisis morfológico y composicional detallado con tecnología de emisión de campo en entornos de investigación, educación o control de calidad.

Mira LM
Técnica: SEM (Scanning Electron Microscope, Microscopio Electrónico de Barrido)

Imagen propiedad de:

Tescan

Obtenida desde su sitio web oficial.

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