Las películas delgadas se aplican a menudo a las superficies para modificar sus propiedades. También se utilizan para crear sensores y dispositivos microelectrónicos de última generación. A medida que el espesor de las películas se acerca a escalas nanométricas, es importante contar con una herramienta para cuantificar su espesor.
La reflectometría de rayos X (XRR) es un método utilizado para cuantificar el espesor, la densidad y la rugosidad de películas delgadas. En este episodio de Live from the Lab hablaremos sobre XRR y veremos cómo analizar mediciones en DIFFRAC.XRR de Bruker
Si esta interesado en participar de este live, puede ir al siguiente enlace y activar la campanita de notificaciones. El live se realizará el día 20 de Octubre a las 11am hra chilena, incluido Punta Arenas.
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