Microscopio electrónico
de barrido
AMBER
Preparación de micro muestras de alta precisión
Nanoanálisis y obtención de imágenes SEM sin campo de ultra alta resolución
Campo de visión extendido y navegación sencilla
Automatización de procesos en múltiples sitios
Tomografía multimodal FIB-SEM
Interfaz de usuario de software modular fácil de usar
Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones
AMBER CRYO
Estación de trabajo flexible crio-FIB-SEM para sus aplicaciones más exigentes en condiciones criogénicas
Flujo de trabajo optimizado de laminillas cryo-TEM para laminillas planas en rejilla sin artefactos de muestras congeladas por inmersión
Solución compatible con todos los cryo-TEM del mercado
Excelente rendimiento de imágenes SEM a muy bajos kV
Cuenta de usuario criogénico con proyecto DrawBeam ™ definido dedicado para sus operaciones criogénicas
Navegación sencilla que incluye un campo de visión extendido, dos cámaras y un modelo de colisión activo en 3D
Interfaz de usuario modular, orientada a la aplicación y fácil de usar, totalmente personalizable
Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones
AMBER X
Procesamiento FIB de gran capacidad y alto rendimiento de hasta 1 mm
Preparación de micromuestras sin Ga
Imágenes y análisis FEG-SEM de resolución ultra alta y sin campo
Detección de SE y BSE en la lente
Optimización de resolución para tomografía FIB-SEM multimodal de alto rendimiento
Campo de visión superior para una fácil navegación
Interfaz gráfica de usuario modular y fácil de usar de Essence ™
CLARA CRYO
Imágenes UHR SEM de muestras sensibles al haz y materiales biológicos no conductores a bajos kV
Excelentes capacidades de obtención de imágenes en condiciones criogénicas
Imágenes de rutina de nanoestructuras y muestras a granel con el detector E-T dedicado
Campo de visión extendido y navegación sencilla a través de la muestra con el diseño Wide Field Optics ™
Propuesta atractiva de precio / rendimiento y costo de propiedad
CLARA GM
Caracterización sin concesiones de todo tipo de materiales a nanoescala
Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz para una topografía superficial máxima
Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras
Configuración totalmente automatizada del haz de electrones: las condiciones óptimas para la obtención de imágenes están garantizadas por el In-Flight Beam Tracing ™
Navegación SEM intuitiva en vivo en la muestra con un aumento tan bajo como 2 × sin la necesidad de una cámara de navegación óptica adicional gracias al diseño Wide Field Optics ™
Diseño único de multidetector integrado que permite la detección de EEB selectiva en ángulo y energía
Plataforma modular de software intuitiva diseñada para un funcionamiento sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
CLARA LM
Caracterización sin concesiones de todo tipo de materiales a nanoescala
Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz para una topografía superficial máxima
Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras
Configuración totalmente automatizada del haz de electrones: las condiciones óptimas para la obtención de imágenes están garantizadas por el In-Flight Beam Tracing ™
Navegación SEM intuitiva en vivo en la muestra con un aumento tan bajo como 2 × sin la necesidad de una cámara de navegación óptica adicional gracias al diseño Wide Field Optics ™
Diseño único de multidetector integrado que permite la detección de EEB selectiva en ángulo y energía
Plataforma modular de software intuitiva diseñada para un funcionamiento sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
MAGNA GM
Imágenes de alta resolución y alto contraste de materiales nextgen (por ejemplo, estructuras catalizadoras, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala)
Excelente plataforma adecuada para metrología SEM / STEM a escala subnanométrica
Configuración rápida del haz de electrones: las condiciones óptimas de imagen están garantizadas por el In-Flight Beam Tracing ™
Sistema de detectores múltiples TriBE ™ y TriSE ™ para nanocaracterización de muestras
Plataforma modular de software intuitiva diseñada para una operación sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
MAGNA LM
Imágenes de alta resolución y alto contraste de materiales nextgen (por ejemplo, estructuras catalizadoras, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala)
Excelente plataforma adecuada para metrología SEM / STEM a escala subnanométrica
Configuración rápida del haz de electrones: las condiciones óptimas de imagen están garantizadas por el In-Flight Beam Tracing ™
Sistema de detectores múltiples TriBE ™ y TriSE ™ para nanocaracterización de muestras
Plataforma modular de software intuitiva diseñada para una operación sin esfuerzo independientemente del nivel de habilidad de los usuarios
Mira GM
El microscopio electrónico de barrido (SEM) de cuarta generación de TESCAN MIRA con fuente de emisión de electrones FEG Schottky combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence ™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos morfológicos y elementales de la muestra, lo que convierte a MIRA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección de materiales de rutina en laboratorios de control de calidad, análisis de fallas y de investigación.
Mira LM
El microscopio electrónico de barrido (SEM) de cuarta generación de TESCAN MIRA con fuente de emisión de electrones FEG Schottky combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence ™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos morfológicos y elementales de la muestra, lo que convierte a MIRA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección de materiales de rutina en laboratorios de control de calidad, análisis de fallas y de investigación.
SOLARIS X
Sección transversal de gran área sin cortinas para el análisis de fallas físicas de tecnologías de empaque avanzadas
Prepare secciones transversales de FIB de gran superficie de hasta 1 mm de ancho
Obtenga una imagen de alta resolución y bajo ruido a bajos keV en un tiempo de adquisición corto en coincidencia FIB-SEM con la muestra inclinada
Monitoreo SEM en vivo durante el fresado FIB para un apuntado final preciso
Observe los materiales más sensibles al haz utilizando una resolución ultra alta de keVs baja para una sensibilidad de la superficie y un alto contraste del material.
Técnicas y recetas efectivas para un corte transversal rápido y sin artefactos de muestras compuestas (pantallas OLED y TFT, dispositivos MEMS, dieléctricos de aislamiento) a altas corrientes.
Interfaz de usuario modular fácil de usar Essence ™
Complemente las capacidades de TESCAN Solaris X con ablación láser independiente, que mejora significativamente el tiempo de obtención de resultados para fresado de gran volumen o acceso a regiones de interés profundamente enterradas, y libera el Plasma FIB para la eliminación final de material específico, adelgazamiento de la muestra o sección transversal pulido.
Tima FEG G4
TESCAN TIMA es una solución dedicada para los requisitos de análisis mineralógico automatizado en estudios de ciencias de la Tierra, así como en el procesamiento industrial de minerales. Ahora en su cuarta generación, TESCAN TIMA ha mejorado la facilidad de uso y ofrece análisis ultrarrápidos para acelerar el tiempo hacia datos confiables y reproducibles. Hasta cuatro detectores EDS funcionan simultáneamente para aumentar el rendimiento del procesamiento de muestras, mientras que el algoritmo de suma espectral de alta sensibilidad único de TESCAN asegura una cuantificación precisa de elementos de baja abundancia. Y los datos TIMA se correlacionan fácilmente con otras técnicas para la caracterización de minerales.
Procese muestras más rápido y acelere su tiempo de obtención de datos con el uso simultáneo de hasta cuatro detectores EDS con procesadores de pulsos digitales
Cuantifique la presencia de elementos de baja abundancia con precisión utilizando el algoritmo de suma espectral de alta sensibilidad patentado de TESCAN
Identifique y cuantifique minerales automáticamente, incluso sin una amplia experiencia, utilizando reglas generadas por algoritmos o definidas por el usuario y la base de datos mineralógica incorporada.
Identifique las ubicaciones de minerales específicos utilizando la búsqueda automatizada de TIMA de minerales de interés
Tiempo libre de instrumentos para microanálisis interactivo aprovechando la capacidad de procesamiento de datos fuera de línea con acceso a todos los mapas elementales
Vega Compact
Demostrando que el nivel de entrada no tiene por qué significar comprometer los resultados, TESCAN VEGA Compact ofrece una solución SEM analítica completa para laboratorios que dan prioridad tanto al funcionamiento sencillo como al rápido tiempo de obtención de imágenes de alta calidad y análisis de composición (EDS).
TESCAN VEGA Compact presenta una configuración simplificada que incluye solo los componentes más críticos para capturar de manera eficiente datos morfológicos y elementales, lo que permite que TESCAN VEGA Compact ocupe un espacio más pequeño en el laboratorio. Con la capacidad de acomodar muestras de gran tamaño que son comunes en la industria, la ciencia de los materiales y los semiconductores, como secciones transversales metalúrgicas, estructuras soldadas o placas de circuito impreso, TESCAN VEGA Compact es una excelente opción no solo para la inspección de materiales actual, sino también para la calidad. necesidades de control y análisis de fallas, pero también sus necesidades analíticas futuras.
TESCAN VEGA Compact funciona desde la propia interfaz gráfica de usuario con todas las funciones de TESCAN, TESCAN Essence ™, que se encuentra en el corazón de todos los instrumentos TESCAN SEM y FIB-SEM. Un operador que aprende sobre TESCAN VEGA Compact puede hacer fácilmente la transición a otros microscopios TESCAN o adaptar algunas características del entorno del software Essence para que coincida con la GUI de otros instrumentos en el laboratorio.
Vega GM
El microscopio electrónico de barrido (SEM) de cuarta generación de TESCAN VEGA con fuente de electrones de filamento de tungsteno combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence ™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos morfológicos y elementales de la muestra, lo que convierte a VEGA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección de materiales de rutina en laboratorios de control de calidad, análisis de fallas y de investigación.
Vega LM
El microscopio electrónico de barrido (SEM) de cuarta generación de TESCAN VEGA con fuente de electrones de filamento de tungsteno combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence ™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos morfológicos y elementales de la muestra, lo que convierte a VEGA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección de materiales de rutina en laboratorios de control de calidad, análisis de fallas y de investigación.