MICROSCOPIA

La potencia amplificadora de un microscopio óptico está limitada por la longitud de onda de la luz visible. El microscopio electrónico utiliza electrones para iluminar un objeto. Dado que los electrones tienen una longitud de onda mucho menor que la de la luz pueden mostrar estructuras mucho más pequeñas.

La longitud de onda más corta de la luz visible es de alrededor de 4.000 ángstroms (1 ángstrom es 0,0000000001 metros). La longitud de onda de los electrones que se utilizan en los microscopios electrónicos es de alrededor de 0,5 ángstroms.

Todos los microscopios electrónicos cuentan con varios elementos básicos. Disponen de un cañón de electrones que emite los electrones que chocan contra el espécimen, creando una imagen aumentada. Se utilizan lentes magnéticas para crear campos que dirigen y enfocan el haz de electrones, ya que las lentes convencionales utilizadas en los microscopios ópticos no funcionan con los electrones. El sistema de vacío es una parte relevante del microscopio electrónico. Los electrones pueden ser desviados por las moléculas del aire, de forma que tiene que hacerse un vacío casi total en el interior de un microscopio de estas características. Por último, todos los microscopios electrónicos cuentan con un sistema que registra o muestra la imagen que producen los electrones.

Fluorecencia de Rayos X

SERIE VEGA G4

El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de 4ta generación VEGA de TESCAN con fuente de electrones de filamento de tungsteno combina imágenes SEM con análisis de composición elemental en vivo en única ventana del software Essence™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos de la muestra tanto morfológicos como elementales, lo que convierte a VEGA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección rutinaria de materiales en control de calidad y análisis de fallas en laboratorios de investigación.

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TESCAN MIRA G4

Los Microscopios Electrónicos de Barrido (SEM) de 4ta generación MIRA de TESCAN con fuente de emisión de electrones FEG Schottky combina imágenes de SEM con análisis de composición elemental en vivo en única ventana del software Essence™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos de la muestra tanto morfológicos como elementales, convirtiendo a MIRA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección rutinaria de materiales en control de calidad y análisis de fallas en laboratorios de investigación.

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TESCAN CLARA

Microscopios Electrónicos de Barrido SEM UHR (Ultra Alta Resolución) analítico de Campo libre para caracterización de materiales a nano escala. 

  • Caracterización sin compromiso de todo tipo de materiales a nanoescala

  • Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz con máxima topografía de la superficie.

  • Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras

  • Configuración del haz de electrones totalmente automatizada: las condiciones de imagen óptima están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™

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TESCAN MAGNA

SEM UHR (Ultra Alta Resolución) para caracterización de materiales a escala sub nanométrica.

  • Imágenes de alta resolución con alto contraste de materiales de siguiente generación (por ejemplo estructuras catalizadoras, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala)

  • Excelente plataforma adecuada para metrología SEM/STEM a escala subnanométrica

  • Rápida configuración del haz de electrones – las óptimas condiciones de imagen están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™

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TESCAN TIMA

Caracterización de minerales mediante medición y análisis minerlológico avanzado de alta velocidad.

  • Aplicable a Minería, Geociencia y Petróleo

  • Comprender más sobre geología, mineralogía y petrología.

  • Visualizar y cuantificar muestras de exploración.

  • Enlace de geología y metalurgia para planificación de la mina con óptima operación de la planta de procesamiento

  • Estructura de datos configurable con libros de trabajo para organizar sus mediciones, imágenes y resultados.

 

  • Hasta 4 detectores EDS para mediciones de alta velocidad de más muestras, alta resolución química mineral, buenas estadísticas de muestreo con alta resolución espacial

  • Herramientas integrales de identificación y composición de minerales

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Los Alerces 2714, Ñuñoa / Santiago - Chile
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